测量材料表面，就可以提升光学设计精确度？

光学测量带来的优势

对物体的整体外观进行量化很复杂，因为外观是一个主观的品质。不过，外观的某些特性可以通过光学散射测量来进行量化：

• 材料反射光的光谱分布与颜色间的关系
• 材料反射光的几何分布与光泽间的关系
• 材料反射光的空间分布与纹理间的关系

要对外观进行量化，需要在物理量和观察者反应之间建立相关性，其中观察者的反应通过视觉测量获得。BSDF就是整合这些信息的物理量。新思科技REFLET和新思科技Mini-Diff产品可用于测量BSDF。

通过BSDF计算可以得出反射率值和透射率值，但这非常依赖于仪器的精度以及测量时的采样或分辨率。

因此，在BSDF之外单独测量R值/T值可以提高光学仿真的精确性。

新思科技TIS Pro是新思科技光学测量家族的新成员，可帮助用户测量物体表面和材料的反射率/透射率。新思科技TIS Pro的功能是由集成在暗箱中的积分球和光谱探测器实现的，暗箱可以控制杂散光，用以确保测量结果的准确性。

新思科技TIS Pro的工作原理

新思科技TIS Pro是新思科技光学测量解决方案的新成员，可帮助用户测量物体表面和材料的反射率/透射率。新思科技TIS Pro的功能是由集成在暗箱中的积分球和光谱探测器实现的，暗箱可以控制杂散光，用以确保测量结果的准确性。

在使用新思科技TIS Pro之前，需要先利用仪器随附的标准样片完成校准步骤。

校准完成后，便可以测量光学表面。有两种测量配置：一种用于测量反射率（如图1所示），其中样本放置在积分球的中心；另一种（如图2所示）用于测量透射率，样本放置在入光口上。

应用领域

新思科技TIS Pro非常适用于评估光学系统中表面和材料造成的影响。测量结果可用于以下方面：

• 表征用于汽车设计或通用照明系统中的反射片/扩散片材料
• 对量产中的质量控制进行评估
• 分析航空航天光学器件所用镀膜对杂散光的抑制
• 测量用于视觉渲染的光谱行为
• 研究化妆品的光学特性
• 针对多个入射角进行材料表征