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StarRC解决方案是EDA行业寄生参数提取的黄金标准。
作为新思科技设计平台的重要组成部分，它为SoC、定制数字、模拟/混合信号、存储器IC和3DIC设计提供了硅片级精度的高性能提取解决方案。
StarRC可为先进工艺节点提供物理效应建模，包括16nm、14nm、10nm、7nm、5nm及更先进制程的FinFET/GAA技术。
它能无缝集成到业界标准的数字和模拟实现系统、时序、信号完整性、功耗、物理验证和电路仿真流程中，同时具有调试能力，可实现无可匹敌的易用性和高效性，从而加快设计收敛及签核验证。StarRC内置场求解器Rapid3D，可作为参照工具或者提供更准确的测量结果。StarRC支持2.5D和3D-IC参数提取，并提供了针对AMS设计的新功能。
StarRC独立网表缩减器分析
随着提取的网表越来越大，寄生参数优化对于实现高效仿真运行变得至关重要。网表缩减器的关键权衡因素是精度和网表大小。StarRC独立网表缩减器可针对每一根走线灵活优化网表。用户可以完全控制某些网络的交易准确性与网表的优化。StarRC的另一项功能是提高设计人员的工作灵活性。
更多StarRC的介绍和客户实例、操作演示，可报名SPEX-I研讨会进行回看。
SPEX-I演讲内容一览：
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