AI驱动的设计应用
芯片生命周期管理(SLM) 的主要目标是确保芯片在其可能很长的生命周期中始终能够持续良好地运作。目前业界一贯的操作方式是在芯片出厂前进行测试,而且只测试一次,在那之后,芯片运作过程中的完整度和可靠性基本上都是没有记录的。
产品的诞生通常是由需求驱动的。SLM平台的诞生也是如此。很多客户都希望能够在芯片投入使用后依然对芯片进行测试,而这个需求又衍生出更多的其他需求,比如可以对芯片进行周期性测试、观测其安全设置、监控各种参数,如性能参数等等。
基于新思科技在TEST和DFT领域丰富的经验和强大的实力,SLM平台得以建立。SLM运用了嵌入式监视和传感、数据分析和良率管理等专业知识。这些数据还可用于重新分析并在生命周期的早期阶段进行改进。
SLM的出现有望让开发者们重新看待芯片从诞生到结束的整个生命周期。
在日益复杂的电子系统中,芯片质量和可靠性一直是开发者所面临的挑战。为这些挑战提供解决方案并不是什么新鲜事,但SLM这一方法学却是前所未见的。SLM建立了一种新的流程,让设备运作的一整个生命周期都可持续提供资料反馈和优化,对企业来说,他们可以访问芯片全生命周期的运行数据。SLM平台的核心是一个专门的分析系统,它有两个基本原则:一是尽可能多地收集关于每个装置的有用数据; 二是能够分析芯片在整个生命周期中的运行数据,洞察其中可以应用的信息,进而不断精进芯片和系统上算法的匹配程度。
SLM平台上有PVT监视器、环境传感器和其他监视器等硬件设备,这些硬件设备可提供大量的芯片数据,整个流程都需要依赖这些数据。之后,将软件整合到测试平台中,进行智能资料萃取,再嵌入到目标系统中进行本地分析。最后,数据将通过这些硬件和软件被输入到统一的SLM数据库和数据模型中,这些数据库和数据模型涵盖了芯片生命周期的所有阶段,每个阶段有特定的分析引擎会针对设计校准、产品量产、测试和制造,以及现场维护等进行分析。
芯片开发者们虽然掌握每个每个功能模块最深层的工作原理,但当这些功能模块投入生产后,开发者们通常就会把注意力转移到下一个设计上,而不再关注和追踪这些已投入生产的功能模块在实际应用过程中的工作状态。尤其是在安全攸关的应用中,追踪芯片在实际使用过程中的运行状态非常必要。
在数据中心、人工智能、高性能计算、车载应用等对芯片要求极高的应用中,芯片的品质、安全性和可靠性十分重要且一直备受关注。公司甚至不惜花费数十亿美元来监控并解决这些问题。SLM让设计人员能够跨系统、跨装置来追踪并维护芯片数据,协助开发者们发现那些在多数装置和系统上可能会出现的系统性问题。
在SLM流程的一开始,先加入关键的PVT监视器和结构传感器等,这些传感器基本上就是设备的眼睛、耳朵和各种感官,能够为我们带来极高的芯片可见度。接着,这些萃取出的芯片数据被用来校准设计模型的参数; 诸如环形振荡器的量测资料、关键电路路径测试的结果,以及制程/电压/温度(PVT)监视器的数据。这些数据收集工具将原始数据与智能集成自动化相结合,再提供给系统对芯片的每个生命阶段进行目标性分析,再根据分析结果对每个设计阶段进行优化。
对企业来说,SLM助力企业产品可以更顺畅且更快速的上市,拥有更好的性能,以及在芯片的使用过程中保证其安全性。SLM还可以提高设计效能、加快产量步伐、提高生产良率、减少测试时间、提高产品质量等等。
SLM给出了芯片设计和维护的一个全新方向!SLM适用于芯片全生命周期中的不同阶段,从早期的设计、验证、制造生产、测试、除错和产品实际上线到现场运作。
新思科技的SLM平台通过分析芯片上监视器和传感器的数据,来完成对芯片全生命周期运行状态的监测和追踪,进而可以持续对每个阶段都进行优化。
在未来,开发者们如果可以与芯片所在的设备保持链接,并在它的整个生命周期内追踪、监控其运作状况,这将是一个非常酷的体验,这一过程所提供的生命数据将帮助开发者设计出更优秀的芯片,所以说,SLM很可能会改变整个先进工艺设计领域的游戏规则。