新思科技(Synopsys)之測試解決方案 廣受汽車晶片供應商採用 協助IC設計達到更優異品質、可靠度和功能性安全

隨著汽車結合先進技術與應用的快速發展，汽車半導體供應商也被其客戶要求加速提昇IC製造的測試品質，以達到低於百萬分之一瑕疵(DPPM: one defective part per million)的水準。新思科技洞察汽車製造商(OEM)和一級系統供應商(Tier 1)對於品質提升的需求，因此針對高度要求安全的車用電子與應用，提供與系統內測試(in-system test)和線路監控(monitoring circuits)等息息相關的IC測試解決方案，以確保在行車期間的安全與可靠性。

新思科技的測試解決方案加速完成ISO 26262 認證
新思科技全新的測試解決方案包括: 實體感知測試點(Physically-Aware Test Points)、測試模式縮減(Pattern Reduction)、高效能錯誤模擬(High-Performance Fault Simulation)和晶載測試監控(On-Chip Test Monitoring)等。新思科技解決方案提供更廣泛的除錯覆蓋率(fault coverage)，同時大幅縮短的測試時間，不僅有效提升測試結果的可靠性，更協助客戶加快通過汽車設計的ISO 26262 認證。

• 實體感知測試點(Physically-Aware Test Points) – DFTMAX™ 針對測試而開發完成的解決方案，結合 SpyGlass® DFT ADV RTL 可測試性分析，將測試點插入到IC設計以增加除錯覆蓋率，同時減少製造和系統內自我測試所需的測試模式數量。減少測試模式數量可用來降低測試成本或增加額外測試容量，更加改善品質。以電路合成為基礎的實體感知測試點的作法可符合設計上的時效目標，同時將測試點的面積大小衝擊降至最低。
• 測試模式縮減 (Pattern Reduction)– 通過ISO 26262認證的TetraMAX® II ATPG 運用了最先進的科技，可快速產生測試程式，同時以更少的測試模式，產生更廣泛的除錯覆蓋率，讓設計團隊可以達到最優異品質的測試結果。 TetraMAX II ATPG不僅通過ISO 26262認證，並且符合最嚴格的汽車安全整合層級ASIL D的要求。
• 高效能錯誤模擬(High-Performance Fault Simulation) –  Z01X™ 錯誤模擬解決方案，運用了突破性的多線程技術(multithreading technology)，加速功能性測試模式的錯誤模擬，讓汽車IC設計者可以更人性化的建立功能性式樣，來補充標準的製造測試，增加測試覆蓋率。
• 晶載測試監控(On-Chip Test Monitoring) – DesignWare® STAR Hierarchical System整合了新的處理程序，和時序監控功能，以達到強化IC可靠度的目的。衡量內部時序頻率和duty cycle，而不需要額外更高頻率的時序，這樣的功能可以滿足對晶圓製作處理上細微的變化。

新思科技行銷副總裁Bijan Kiani表示：「汽車半導體公司採用新思科技通過ISO 26262認證的測試解決方案，以達到IC設計之功能性安全和品質目標。新思科技針對車用電子領域已整合並研發出相關解決方案，為我們的客戶提供更快速和更省成本的方法，以達到其客戶所追求之人性化智慧型車款，塑造無懈可擊的行車體驗。」