時   間：民國108年7月11日 (星期四)  9:30am - 4:10pm

地   點：新竹國賓大飯店10樓宴會廳  (新竹市中華路二段188號) 

面對日益複雜的功能需求，當今晶片設計的挑戰更形嚴峻，測試條件亦日趨嚴苛。為了確保晶片在生產過程中的良率及能在使用中即時監測，並提高測試效率有效控管測試成本，再再凸顯出完整的測試方案在整體設計流程中的重要性。

有鑑於此，新思科技將於108年7月11日舉行「新思科技 TestMAX 技術研討會」，會中除介紹新思科技 Fusion Design Platform 及TestMAX 的完整測試解決方案，包含汽車電子，邏輯及記憶體等的測試方案進行探討，並將就高速測試介面及良率診斷分析做深入的討論，期能提供給台灣半導體產業夥伴們一個全方位的高效率測試解決方案。