TIS Pro | Mini-Diff V2 | Mini-Diff VPRO | REFLET 180S | 測定サービス | SmartStart ライブラリ |
光学散乱測定装置/測定サービスに関する日本国内の営業窓口が株式会社システムズエンジニアリングに移管いたしました。
価格見積もりやトライアルなど営業に関するお問い合わせは、システムズエンジニアリング社にお問い合わせください。
弊社にお問い合わせ頂いた場合でもシステムズエンジニアリング社よりご回答する場合がございますので、予めご了承ください。
ご購入いただいた製品の技術サポートや測定サービスの測定作業は従来通り弊社が対応いたします。
また、今回の移管に伴い、システムズエンジニアリング社のWEBページに製品特設ページとお問い合わせフォームが新設されました。
ぜひご確認ください。
株式会社システムズエンジニアリング
TEL:03-3868-2634 (平日 9:00~17:30)
反射、透過、吸収を正確に測定できる分光測定器
Synopsys TIS Pro(以下TIS Pro)は、反射率、透過率、吸収率を効率的に測定するための全自動型分光測定器です。
迷光を制御する構造に組み立てられた積分球と分光器を内蔵しており、高速かつ正確な測定結果を得ることができます。
また、表面や材料の光学特性を測定し、さまざまな入射角で可視スペクトル全体の測定を行えます。
コンパクトでポータブルな散乱測定器
Synopsys Mini-Diff V2(以下、Mini-Diff V2) は、光散乱特性測定を行うためのコンパクトでポータブルなソリューションです。あらゆる種類の材料や物体のBRDFおよびBTDFを測定することができます。Mini-Diff V2は、粗さ、欠陥、コーティング、塗装などを含んだ材料や物体の表面特性を正確に測定することができます。
Mini-Diff V2は、キャリブレーション用スタンダードサンプル、ソフトウェア、接続ケーブルが入った専用ケースと共にお届けします。
2次元/3次元散乱測定器
Synopsys Mini-Diff VPro(以下、Mini-Diff VPro)は、カメラベースで3D半球領域を散乱測定するソリューションです。Mini-Diff V2と同様に、Mini-Diff VProはBRDF、BTDF、TISの測定が可能です。また、色度、反射率、透過率のデータも提供されます。
Mini-Diff VProはシングルボックスに統合されており、内部では測定中の迷光や温度偏差を制御し、高い安定性と精度を持つ測定環境をご提供します。この測定器は、サンプルへの入射角を0°から60°の範囲で選択でき、モーター駆動でMini-Diffソフトウェアから操作することができます。
スタンドアローン版散乱測定器
Synopsys REFLET 180S(以下、REFLET 180S) は、材料のスポット的な検査や素早い分析に簡単に使用できます。REFLET 180Sは、あらゆる種類の材料や物体に対する後方および前方光散乱の特性評価に特に適しています。
これらの材料の放射方向に含まれる光度分布を、測光および測色で測定することができます。
さらに、本システムはBRDFとBTDFを測定し、物体の表面が3D空間で入射光を散乱させる様子を完全に再現できます。
光学散乱測定サービス
カスタム散乱測定は必要でしょうか?当社の社内ラボは、環境光と環境温度を制御しており、最適な測定環境を提供しています。当社の光学技術者より以下のSmartStart Measurement Servicesをご提供します。
高輝度材料測定サービス
当社のハイスペキュラーベンチは、あらゆる種類の材料や物体の後方および前方散乱光の特性評価に適しています。このシステムはBRDFとBTDFを測定し、あらゆる表面が2次元空間で入射光を散乱させる様子を完全に表現できます。
国立科学研究センター(CNRS)と共同開発したハイスペキュラーベンチは、赤外波長(3.39および10.6 µm)の測定にも機能を拡張しました。これにより、波長280 nmの紫外線から波長10.6 µmの赤外線まで、10の13乗のダイナミックレンジでの散乱測定が可能になりました。
ハイスペキュラーベンチの測定距離は10mあり、スペキュラー方向からの最小分解能は0.02°を実現できます。
この測定システムは測定サービス専用であり、当社がご提供しております測定器のラインナップには含まれません。
シノプシスのLightToolsとLucidShape製品に対しては、これらの散乱測定装置で測定された表面特性データや材質データがSmart Startライブラリとして提供されており、お客様の時間短縮や開発コスト削減を支援しています。
物理ベースモデリングの効率化に役立つ高精度の散乱データをより多くご提供すべく、シノプシスはSmartStartライブラリを日々拡充しています。
フォトリアルなレンダリングは、3Dソフトウェアを用いて現実に近い画像を生成する技術で、開発品の事前視覚化が可能です。
公開日:2024年3月29日
双方向散乱分布関数(BSDF)データを測定できる新しい測定器とそのアプローチにより、電子ディスプレイの光散乱を評価し、性能評価をより簡単かつ迅速にできるようになりました。
公開日:2023年8月7日
シノプシスはガラスやコーティングの性能と光学特性を簡単に測定するソリューションを提供しています。あらゆる材料の反射および透過の光散乱を測定できます。
公開日:2023年8月7日
Mini-Diff V2 | Mini-Diff VPro | REFLET 180S | High Specular | |
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光散乱測定 | ARS/BRDF/BTDF | ARS/BRDF/BTDF | ARS/BRDF/BTDF | ARS/BRDF/BTDF |
光源波長 | 465 - 525 - 630 nm - 850 nm もしくは 940 nm(Mini-Diff V2 IRのみ) | 465 nm, 525 nmと630 nm | ハロゲンランプ+バンドパスフィルター | 280 nm から10.6 µmまでの離散値 |
検出波長 | NA | NA | 可視域 近赤外域 900-1700 nm 分光器 [400-800] nm | NA |
入射角度 | 固定: BRDF と BTDF: 0°, 20°, 40°, 60° | 可変: BRDF と BTDF: 0° から +60° |
可変: BRDF と BTDF: 0° から +90° | 可変: BRDF: 5° から +90° BTDF: 0° から +90° |
測定領域 | 3D 球体領域 | 3D 球体領域 | 2D及び3D 球体領域 | 2D 球体領域 |
スポットサイズ (直径) | > 1 mm | > 1 mm | 1 mm から 13 mm (連続的可変) | 2 mm から 14 mm (波長依存) |
検出口サイズ | ∅ 1 mm | ∅ 1 mm | ∅ 6 mm /∅ 8 mm /∅ 14 mm | NA |
入射光拡散角 | NA | NA | +/- 2.26° から +/- 0.15° | +/- 0.01° 可視領域 +/-0.1° 近赤外領域 |
入射光位置精度 | NA | NA | 0.001° | +/- 0.001° |
検出側許容角度 | +/- 0.5° | +/- 0.5° | +/- 0.04° / 1.1° / 2° | +/- 0.001° |
検出側位置精度 | NA | NA | 0.001° | NA |
測定解像度 | 1° | 1° | 0.01°/0.1°/1°/10° | 0.001° |
グローバル軸のアライメント | 1° | 1° | < 0.5° | 0.002° |
正確性 | < 5% | < 2% | < 1% | < 1% |
繰り返し性 | < 2% | < 2% | < 1% | < 1% |
最小BRDF(測定可能) | 10e-2 | 10e-3 | < 10e-4 | < 10e-7 (10e-5 近赤外) |
ダイナミックレンジ | 10e5 | 10e6 for BTDF 10e5 for BRDF |
10e9 (可視領域) 10e6 (近赤外領域) | 10e13 (可視領域) 10e9 (近赤外領域) |
最小形状(測定可能) | +/- 1° (BTDF、入射角 0°、525 nm) | +/- 0.5° (BTDF、入射角 0°、525 nm) | +/- 0.15° | +/- 0.01° 可視領域 +/- 0.1° 近赤外領域 |
重量 | 2 kg | 42 kg | 80 kg | NA |
寸法 | 10 x 10 x 30 cm | 450 mm x 600 mm x 738 mm | 86 x 98 x 122 cm | NA |
特徴 | プラグ&プレイ 使いやすく、速い ポータブル&コンパクト 手頃な価格 |
高い測定精度 高い安定性 使いやすい操作性 Mini-Diff V2の研究室バージョン | 高いダイナミックレンジ 高い測定精度 高い再現性 測定波長をカスタマイズ可能 | 非常に高いダイナミックレンジ 正反射から0.002°の位置での測定 高い測定精度 高い再現性 測定波長をカスタマイズ可能 |