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Multi-Physics Utility™※1は、RSoftのパッシブデバイスツールと共に使用することができ、構造の屈折率プロファイルの変化をシミュレーションに含めるための便利なインターフェイスを提供します。Multi-Physics Utilityでは、電気光学効果、熱光学効果、光弾性効果、キャリア効果など、材料における高度な物理プロセスによって引き起こされる影響を計算に含めることができます。これらの効果を記述するために必要なすべての材料パラメータは、RSoftの材料ライブラリで定義することができます。
※1: 電気光学効果(EO)および熱光学効果(TO)については無償でご利用いただくことができます。
SiO2中に埋め込まれたシリコンリッジ導波路でのキャリア効果による屈折率変化
SiO2中に埋め込まれたシリコンリッジ導波路の歪みのX成分