ニュースリリース - 2013年9月10日

シノプシス、シリコン・テストのコストを劇的に削減するDFTMAX Ultraを発表

少ピン・テストで、3倍のテスト圧縮をユーザーが実現

2013年9月9日 カリフォルニア州マウンテンビュー発 - 半導体やエレクトロニクス・システムのイノベーションを加速させる開発用ソフトウェア、IP、技術サービスの世界的リーダーであるシノプシス（Synopsys, Inc.、Nasdaq上場コード:SNPS）は本日、シリコン・テストのコストを大幅に削減する新製品 DFTMAX Ultraを発表した。DFTMAX Ultraは、シノプシスの合成ベース・テストソリューションを構成する製品である。RTL合成ツールDesign Compilerの中に組み込まれ、最近発表となったテスト・テクノロジを搭載したDFTMAX Ultraは、従来の3倍ものテスト圧縮機能を提供し、複数ダイの並列テストを可能にするため、テスト装置のパフォーマンスを最大限利用して、シリコン・テストにかかる時間を最小限に抑制できる。DFTMAX Ultraを活用することにより、設計者は、製品品質を上げると共に、設計目標とスケジュールを犠牲にすることなくテスト・コストを削減できるメリットを享受できる。 2013年9月9日カリフォルニア州アナハイムで開催するシノプシスのテスト・ソリューション・ユーザー会「第21回Synopsys Test Special Interest Group Meeting」では、複数のユーザーが、DFTMAX Ultraおよび新しくリリースされたDesignWare STAR Hierarchical Systemの活用事例と効果を発表する。

Realtek社の上級副社長兼スポークス・パーソンであるJessy Chen氏は次のように語っている。「当社は常に最高の信頼性を備えた製品の開発に努めています。DFTMAX Ultraによって、非常に高いテスト圧縮率を実現でき、スキャン・チェーンをテスター実測と同じスピードで流すことができるため、テストにかかるコストと時間を３分の１にまで削減できました。またこの製品は、既存の設計フローに非常に容易に組み込めるため、導入後の設計を迅速に達成できます」

DFTMAX Ultraは、シノプシスが最近開発したテスト・テクノロジを搭載しており、圧縮したテスト・データをDFT回路に効率的に出し入れできるため、高品質なシリコン製造テストの実現に必要なデータ量を大幅に減らすことができる。ツールが生成するテスト回路構造は、従来のように多くのテスト・ピンを使用せず、テスト・モード時のシリコン動作をより高速化できる。このため、テスト・エンジニアはより多くのダイを平行してテストでき、ダイ１つ当たりのテスト時間を削減できる。優れた品質と短納期を達成するため、設計チームはDFTMAX UltraをシノプシスのGalaxyデザイン・プラットフォームのツール群と共に用い、スピード、面積、パワー、テスト、歩留まりをコンカレントに最適化し、合理的にトレードオフできる。

シノプシス　インプリメンテーション・グループ　ジェネラルマネージャー兼上級副社長　Antun Domicは次のように述べている。「わが社は、合成ベースのテスト・ソリューションを業界で先駆けて開発し、また2005年にはテスト圧縮ツール DFTMAXを発表しました。DFTMAXは、TetraMAXと共に使うことでテスト・コストを下げるばかりでなく、製品の品質を改善してきました。合成ベース・テストの最新の革新的技術であるDFTMAX Ultraを活用すれば、設計スケジュールを遅らせることなく、更にテスト・コストを下げ、製品品質を向上させることができます」